IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
ISSN 1071-9032, 2158-1029 · Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures tidak terakreditasi Sinta (Sinta hanya mengakreditasi jurnal Indonesia) dan terindeks Scopus (SCImago 2025).
Peringkat dan informasi jurnal
- Akreditasi Sinta
- Tidak berlaku (jurnal luar negeri)
- Scopus
- Terindeks
- SJR 2025
- 0,227
- H-index (SCImago)
- 24
- Cakupan Scopus
- 1988–2025
- ISSN
- 1071-9032, 2158-1029
- Penerbit
- Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
- Negara
- United States
- Biaya publikasi (APC)
- Belum tercatat. Cek halaman biaya di situs jurnal.
Kategori dan kuartil Scopus
- Electrical and Electronic Engineering–
Kuartil per kategori dari SCImago Journal Rank 2025. Kuartil terbaik dipakai sebagai peringkat utama.
Cakupan (focus and scope)
Cakupan jurnal ini belum tercatat di data kami. Baca bagian Focus and Scope di situs jurnal sebelum mengirim naskah.
Pertanyaan umum
Apakah IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures terakreditasi Sinta?
IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures tidak terakreditasi Sinta (Sinta hanya mengakreditasi jurnal Indonesia).
Apakah IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures terindeks Scopus?
IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures terindeks Scopus (SCImago 2025).
Berapa biaya publikasi (APC) di IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures?
Biaya publikasi jurnal ini belum tercatat di data kami. Periksa halaman biaya atau pedoman penulis di situs jurnal.
Sumber data: SCImago Journal Rank 2025, Scopus Source List Agustus 2026. Peringkat dan status bisa berubah; pastikan di situs resmi sebelum mengirim naskah.