Surface Topography: Metrology and Properties
ISSN 2051-672X · IOP Publishing Ltd.
Surface Topography: Metrology and Properties tidak terakreditasi Sinta (Sinta hanya mengakreditasi jurnal Indonesia) dan terindeks Scopus dengan kuartil terbaik Q3 (SCImago 2025).
Peringkat dan informasi jurnal
- Akreditasi Sinta
- Tidak berlaku (jurnal luar negeri)
- Scopus
- Terindeks, kuartil terbaik Q3
- SJR 2025
- 0,363
- H-index (SCImago)
- 43
- Cakupan Scopus
- 2013–2025
- ISSN
- 2051-672X
- Penerbit
- IOP Publishing Ltd.
- Negara
- United Kingdom
- Biaya publikasi (APC)
- USD 3.325 · sumber: OpenAlex
Kategori dan kuartil Scopus
- InstrumentationQ3
- Materials ChemistryQ3
- Process Chemistry and TechnologyQ3
- Surfaces, Coatings and FilmsQ3
Kuartil per kategori dari SCImago Journal Rank 2025. Kuartil terbaik dipakai sebagai peringkat utama.
Cakupan (focus and scope)
Cakupan jurnal ini belum tercatat di data kami. Baca bagian Focus and Scope di situs jurnal sebelum mengirim naskah.
Pertanyaan umum
Apakah Surface Topography: Metrology and Properties terakreditasi Sinta?
Surface Topography: Metrology and Properties tidak terakreditasi Sinta (Sinta hanya mengakreditasi jurnal Indonesia).
Apakah Surface Topography: Metrology and Properties terindeks Scopus?
Surface Topography: Metrology and Properties terindeks Scopus dengan kuartil terbaik Q3 (SCImago 2025).
Berapa biaya publikasi (APC) di Surface Topography: Metrology and Properties?
USD 3.325 (sumber: OpenAlex). Biaya bisa berubah; pastikan di situs jurnal sebelum mengirim naskah.
Sumber data: SCImago Journal Rank 2025, Scopus Source List Agustus 2026, OpenAlex. Peringkat dan status bisa berubah; pastikan di situs resmi sebelum mengirim naskah.